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TOE-TIR2 - PPGCEM

Tópicos Especiais: Técnicas de Imagem de Raios-X e Microtecnologia para Engenheiros
Informações da disciplina
  • Departamento: Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais
  • Carga Horária Teórica: 30 horas/aula
  • Carga Horária Prática: 0 horas/aula
  • Créditos: 0

Ementa


Introdução. Geração de raios-X: fontes coerentes e incoerentes. Interações de raios-X com a matéria. Detecção de raios-X. Radiografia convencional: aplicações e limitações. Tipos de óptica de raios-X: reflexão, refração, difração, absorção. Litografia para manufatura de componentes ópticos de raios-X. Caracterização de componentes ópticos de raios-X. Métodos interferométricos baseados em grades de difração. Interferometria Talbot-Lau. Visibilidade e homogeneidade. Extração de Imagens de raios-X. Interferometria Talbot-Lau: aplicações em medicina e em ciência dos materiais. Novos métodos ópticos de raios-X. Métodos não-interferométricos baseados em grades para investigações de nanocompósitos e materiais biomédicos.

 
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